Рентгенфлюоресцентные толщиномеры

Серии FISCHERSCOPE X-RAY XDL и XDLM тесно связаны с сериями XUL и XULM: в них используются одинаковые детекторы, диафрагмы и комбинации фильтров. Приборы серии XDL также оснащаются стандартной рентгеновской трубкой и фиксированной диафрагмой, которые хорошо подходят для измерений на крупных образцах

Серии FISCHERSCOPE X-RAY XDL и XDLM тесно связаны с сериями XUL и XULM: в них используются одинаковые детекторы, диафрагмы и комбинации фильтров. Приборы серии XDL также оснащаются стандартной рентгеновской трубкой и фиксированной диафрагмой, которые хорошо подходят для измерений на крупных образцах

Рентгенофлуоресцентный спектрометр-толщиномер с измерительным и высокопроизводительным вычислительным модулем для определения тонких покрытий, микроэлементов, сплавов, электролитов

Прибор представляет собой портативный «пистолет» для быстрых и точных измерений состава и толщины покрытий на больших плоских образцах или в труднодоступных местах.

Всевозможные варианты конфигурации приборов семейства FISCHERSCOPE X-RAY XAN охватывают весьма широкий спектр применений. Отличительные черты этих приборов — быстрота и точность анализа состава материалов (например, драгоценных металлов, в т. ч. сплавов золота), а также удобство пользования. Их также можно использовать в электронной промышленности для анализа тонких покрытий — например, при производстве печатных плат.

Серии FISCHERSCOPE X-RAY XDL и XDLM тесно связаны с сериями XUL и XULM: в них используются одинаковые детекторы, диафрагмы и комбинации фильтров. Приборы серии XDL также оснащаются стандартной рентгеновской трубкой и фиксированной диафрагмой, которые хорошо подходят для измерений на крупных образцах

Серии FISCHERSCOPE X-RAY XDL и XDLM тесно связаны с сериями XUL и XULM: в них используются одинаковые детекторы, диафрагмы и комбинации фильтров. Приборы серии XDL также оснащаются стандартной рентгеновской трубкой и фиксированной диафрагмой, которые хорошо подходят для измерений на крупных образцах

Энергодисперсионные рентгенфлуоресцентные спектрометры серии GOLDSCOPE были специально разработаны для быстрого, точного, неразрушающего анализа сплав изделий из драгоценных металлов, а также для измерения толщины золотых покрытий на серебряных изделиях и родиевых покрытий на золотых изделиях.

В приборах серий FISCHERSCOPE X-RAY XUL и XULM источник и детектор рентгеновского излучения расположены под измерительной камерой, что ускоряет и облегчает позиционирование образцов наряду со смотровым окном. Органы управления увеличенного размера на передней панели прибора упрощают манипулирование образцами, что особенно помогает при контроле большого количества деталей в повседневных условиях производства.

Энергодисперсионные рентгенфлуоресцентные спектрометры серии GOLDSCOPE были специально разработаны для быстрого, точного, неразрушающего анализа сплав изделий из драгоценных металлов, а также для измерения толщины золотых покрытий на серебряных изделиях и родиевых покрытий на золотых изделиях.

Энергодисперсионные рентгенфлуоресцентные спектрометры серии GOLDSCOPE были специально разработаны для быстрого, точного, неразрушающего анализа сплав изделий из драгоценных металлов, а также для измерения толщины золотых покрытий на серебряных изделиях и родиевых покрытий на золотых изделиях.

Энергодисперсионные рентгенфлуоресцентные спектрометры серии GOLDSCOPE были специально разработаны для быстрого, точного, неразрушающего анализа сплав изделий из драгоценных металлов, а также для измерения толщины золотых покрытий на серебряных изделиях и родиевых покрытий на золотых изделиях.

В приборах серий FISCHERSCOPE X-RAY XUL и XULM источник и детектор рентгеновского излучения расположены под измерительной камерой, что ускоряет и облегчает позиционирование образцов наряду со смотровым окном. Органы управления увеличенного размера на передней панели прибора упрощают манипулирование образцами, что особенно помогает при контроле большого количества деталей в повседневных условиях производства.

Рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер с высокоточной программируемой X/Y платформой, возможностью перемещения по оси Z, измерительным и высокопроизводительным вычислительным модулем.

Рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер с высокоточной программируемой X/Y платформой, возможностью перемещения по оси Z, измерительным и высокопроизводительным вычислительным модулем. Это универсальный прибор для широкого круга задач. Предназначен для автоматизированных измерений очень тонких покрытий, малых концентраций элементов, микроэлементов, сплавов, электролитов.