FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ
Цена по запросу

Специализированный рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер для автоматизированных измерений:  

 

  • толщины покрытий на очень мелких деталях;
  • анализа состава сплавов очень мелких деталей;
  • анализа структуры слоев печатных плат (для размеров печатных плат до 610х610 мм);
  • анализа очень тонких покрытий (напр. золото на палладии толщиной до ≤ 0.1 мкм);
  • определения толщины и состава в сложных многослойных системах покрытий.

 

Характеристики:

 

  • Диапазон измеряемых элементов: от Al (13) до U(92).
  • Одновременный анализ до 24 слоев.
  • Кремниевый дрейфовый детектор (SDD) с охлаждающим элементом Пельтье.
  • Высокоточный программируемым XY-стол и электрический привод по оси Z.
  • Измерения проводятся сверху вниз.
  • Микрофокусная трубка с бериллиевым окном.
  • Поликапиллярная оптика.
  • Измерительное пятно диаметром 20 мкм.
  • Первичные фильтры: Ni 10 мкм; без фильтра; Al 1000 мкм; Al 500 мкм.
  • Возможность установки напряжения источника рентгеновского излучения: 10, 30 или 50 кВ
  • Цветной видеомикроскоп в области измерения.
  • Цифровое приближение 1x, 2x, 3x, 4x.
  • Используемая для измерения площадь: 600 x 600 мм.
  • Максимальные параметры измеряемого образца: вес до 5 кг, высота до 10 мм.
  • Размеры прибора (Ширина x глубина x высота): 670 x 885 x 660 мм
  • Рабочие температуры: 10 °C – 40 °C,
  • Температура хранения прибора: 0 °C – 50 °C
  • Вес прибора – 95 кг
  • Прибор поставляется с компьютером и монитором; базовый комплект программного обеспечения - WinFTM BASIC + PDM, опционально - WinFTM SUPER.